關於液體渦（wō）輪流量計在鋁廠測量中的應用
點擊（jī）次數：2633 發布時間：2021-01-13 17:43:56
鋁帶的厚度是鋁帶生產中的重要參數（shù），因為（wéi）它對進一（yī）步加（jiā）工具有重（chóng）要意義。除帶材厚度外，帶材寬度也起著重要作用，尤其是在（zài）將材料切成單個環時。
如果存在生產偏差，則將花費金錢和（hé）時間。高（gāo）精度的生產監控在生產過程中絕對必不可少，並且可以通過使（shǐ）用Micro-Epsilon的激（jī）光線液體渦輪流量計來可靠地（dì）確保。
鋁生產和（hé）加工市（shì）場存在激烈的競爭，這是一個艱苦（kǔ）的競爭。為（wéi）了提（tí）高競爭力，製造商麵臨許多挑戰。對生（shēng）產（chǎn）過程的日益嚴格的要求包括對原材料使用的優化以及對各（gè）種標準的限製。
測量儀器是遵守（shǒu）法（fǎ）規，條件，標準和參數並確保精確測量的**合理且經（jīng）濟的解決方案。在生產過（guò）程中，測量儀器充當可靠，一致且準確的控製單元（yuán）。
在（zài）熱（rè）軋和冷軋過程中，與指定尺寸的偏差通（tōng）常發生在生（shēng）產鏈的（de）開始。厚度和/或寬度的標稱（chēng）值的波動和偏差（chà）會導致不可接（jiē）受的材料成本以及質量下降（jiàng），這（zhè）增加（jiā）了生產產（chǎn）品下遊加工的難度，*終導（dǎo）致投訴和重（chóng）大（dà）財務損失。
測量方法比較
三種不同的原理主導著金屬厚度測量領域（yù）。*一種（zhǒng）是接觸方法，其中*好使用兩個測量頭，一個在物體上方，一個在物體下（xià）方（fāng）。
由於測量期間的接觸，此類設備通常（cháng）會更（gèng）快磨（mó）損，並在生產過程（chéng）中產生問題。另外，由於僅在各個點進行測量，因此隻能獲（huò）得（dé）有關厚（hòu）度變化的近似信息。
放射性方法（fǎ）適用於同位素輻射（shè）或（huò）X射線（xiàn）源，但是它們會被薄板本身所衰減。發射器（qì）用於發射和接收輻射，發射和接收到的輻射之（zhī）間的差用（yòng）於確定平均厚度（dù）。
方法可靠性的提高取決於合（hé）金和材（cái）料的狀況。另外，還需要進行輻射防護（hù）和（hé）定期安全測試的費用，這需要定期支出。
與其他方法相比，基於激光三角測量的（de）光學方法具有優勢，因為無需接（jiē）觸即可進行測量，因（yīn）此不會造成磨損。另外，不管材料的狀況如何，都可（kě）以對（duì）帶材表麵進行精確（què）的幾何測量。
Micro-Epsilon的*新厚度測量儀使用激光線三角測量液（yè）體（tǐ）渦輪流量計（輪廓電磁流量（liàng）計），具有更多優（yōu）勢（shì）。如縱向縱切機中所見，由於刀片施加在鋼帶上的力，在冷鋼帶的加工過程中通常會發生較大的垂（chuí）直運動。
液（yè）體（tǐ）渦輪（lún）流量計克服了這（zhè）些限製。輪廓電磁流量計產生的較高信息密度凸顯了其（qí）優勢。激光（guāng）光斑延伸到輪廓電磁流量計中的一條線（xiàn），並且通（tōng）過穿過電磁流量計（jì）產生的點雲的（de）“*佳擬合線”獲得測量值。
由於所述線的變化是根據幾個（gè）部分分辨率的相互作用來計算的，因此，距離分辨率關係明顯優於點電磁流量計。因（yīn）此，在更大的麵積上可獲得更多的測量值，將其平（píng）均（jun1）後可（kě）提（tí）供更好的精度。
由於具有*適合的線條特征，因此在較大的測量距離處，線液體渦輪流量計的分辨率比點電（diàn）磁流量計的分辨率要好。由於采取了（le）這些措施，在線掃描儀中的工作間隙為190 mm，測量範圍為40 mm，精（jīng）度為±5 μm，而點電（diàn）磁流量計在相同範圍內則達到了±25 μm。
解決方（fāng）案：C型框架和O型框架係統
恒定的電磁流量計距離對於（yú）使用距離液體渦輪流量計進行差分厚度測量至關重（chóng）要。通常，使（shǐ）用兩種不同的設（shè）計類型，由於（yú）它們（men）的形狀，它們被稱為C框架或（huò）O框（kuàng）架。
電磁流量計固（gù）定在C形框架的上下臂上，框架作為一個（gè）整體移動以到達測量位置。通過增加材料寬度，上懸臂的（de）振動敏（mǐn）感性增加（jiā），這使得C型框架*適合包含窄條的應（yīng）用。
在更換線圈（quān）時校準C形框架時，主組（zǔ）件會自動移入測量間隙，並平衡係統以進行新的測量。
C型框（kuàng）架的優點是，在穿線過程中或在危險情況下，由於所謂的滑雪效應（條帶在一側向上彎曲）或短吻鱷效應（條（tiáo）帶向下和向（xiàng）上彎曲）引（yǐn）起的（de）危險情況下剝離後，可（kě）以將C框架從生產線上完全移除。但是，這需要空間，而服務中心通常不可用（yòng）。
由於其緊湊的結構，在（zài）這（zhè）裏O型框架是一（yī）個更好的選擇。由於恒（héng）定的測量間隙是此類設備精度的決定性標準，因此O型架具有很多優勢。此版本基於穩定（dìng）框架（jià）設計，該框架集成在生（shēng）產線中。
由於采（cǎi）用了堅固的框架，因此可以檢查*大寬（kuān）度（dù）為4,000 mm的帶鋼的厚度，寬度和輪廓。自動（dòng）校準單（dān）元也是該版本的一部分。液體（tǐ）渦輪流量計係統在測量過程中連續穿過金屬帶，並在帶材料的整個寬度上（shàng）收集輪廓（kuò）數據。
恒定測量間隙
與O形框架相結合的恒定（dìng）測量間隙是獲得精確結果的基本前提。使用附加的位移測量電磁流量計技術或在過程非關鍵時刻進（jìn）行迭代校準，可以實現（xiàn）對測量間隙的（de）有效監控。
機架的幾何形狀以及測量間隙均受溫度變化的影響。但（dàn）是，通常，由於與溫度相關的變化緩慢發生，因此有足夠的時間可用於采取必要的措施而不會損害製造過程。
Micro-Epsilon的“補償框架”**概念在（zài）此方麵提供了幫助。為此，在係統中集成了一個額外的溫度固定（dìng）框架，該框架平行於上下吊臂運行，每個（gè）測量液（yè）體渦輪流量計的支撐都通（tōng）過所謂的補（bǔ）償電磁流（liú）量計擴展（zhǎn）。
支撐件與補償框架的距離由（yóu）這些電磁（cí）流（liú）量計確定（dìng），測量間隙的變化完全轉換為補償電磁流量計與補償框架的（de）距（jù）離。可以消除這種變化（huà），並（bìng）且將測（cè）量間隙保持在非臨界水平（píng）上恒定。
縱向縱剪剪切機的（de）厚度測量和集成寬度測（cè）量
除了厚度測量外，由於線性電磁流量計的高橫（héng）向分辨率，還可以精確測量材料的邊緣。可以確（què）定縱向縱剪中每個環的橫向輪廓。
然而（ér），這（zhè）對於（yú）具有大測（cè）量點的方法可能是（shì）困難的，因為當狹縫（féng）條窄時，該方法的（de）橫向分辨率通常不足以進行該測量。使（shǐ）用（yòng）基於輪廓掃描儀的（de）厚度測量（liàng）單元（yuán），對於從（cóng）帶材（cái）上切下並非常接近*小公差*限的環，可以提高從卷材獲得的產量。
所生產的戒指仍然可（kě）以（yǐ）在公差範圍內，而（ér）與其相（xiàng）鄰的戒（jiè）指則不能出售，或者不（bú）屬於相（xiàng）關訂單的一部分。當隻有一個（gè）厚（hòu）度輪廓且其橫向分辨率不精（jīng）確時（shí），具有可（kě）接受尺寸的環將（jiāng）不再流通。
邊緣檢測的可能性還可以實現精確的寬度測量。除了用於測量厚度的液體渦（wō）輪流量計係統外，*三激光線電磁流量計還（hái）集成在係統中並且可以獨立定位（wèi）。因此，可以對條帶的兩個（gè）邊緣進行同步檢（jiǎn）測，並且聚類不影（yǐng）響測量結果。
當厚（hòu）度電磁流（liú）量（liàng）計係統在整個材料寬度（dù）上連續移動時，寬度（dù）電磁（cí）流量計位於下一個切割間隙。當兩個電磁流量計都檢測到條帶的邊緣時，將測量條帶的寬度。
層壓板的厚度測量
層壓板（bǎn）的厚度測量是激光線（xiàn）液體渦輪流量計的另一應用。然而，涉及穿透輻射的方法不適合於（yú）此。
例如，當層壓板由外層板（bǎn）製成且內部具有網狀結構時，輻（fú）射法僅測量測量（liàng）間隙中的材料分（fèn）數（shù），而不測量產品的尺寸精度。激光線掃描儀確定此類紙張（zhāng）的幾何（hé）尺寸並識別起伏，這些（xiē）起伏可提供有關在處理（lǐ）過程中出現的問題的信息。
瓦楞紙和（hé）波紋板的厚度（dù）測量
在結構化表麵上的測量是激光輪廓液（yè）體（tǐ）渦輪流量計顯示其強度（dù）的地方。材料的基本厚度和*終產品的總厚度在瓦楞紙或（huò）凹版紙（zhǐ）的製造中很重要。
不能通過具有較大測量點的方法（例如使用X射線或同位素（sù）輻（fú）射）或通過具（jù）有很（hěn）小測量點的方法（例如點形激光三（sān）角測量）或什至接觸方法來執行此任務。
激光線（xiàn）電磁流量計的*大線寬可達64毫米，具體取決於測量範圍。可（kě）以對液體渦輪（lún）流量計進行定位，以便（biàn）可以通過激光線可靠地確定凹痕（hén）峰（fēng）和（hé）片材的基本（běn）厚度。這是因為用於將壓紋或凹痕輪（lún）廓（kuò）卷成片的卷的幾何形狀是已知的。
如果存在生產偏差，則將花費金錢和（hé）時間。高（gāo）精度的生產監控在生產過程中絕對必不可少，並且可以通過使（shǐ）用Micro-Epsilon的激（jī）光線液體渦輪流量計來可靠地（dì）確保。
鋁生產和（hé）加工市（shì）場存在激烈的競爭，這是一個艱苦（kǔ）的競爭。為（wéi）了提（tí）高競爭力，製造商麵臨許多挑戰。對生（shēng）產（chǎn）過程的日益嚴格的要求包括對原材料使用的優化以及對各（gè）種標準的限製。
測量儀器是遵守（shǒu）法（fǎ）規，條件，標準和參數並確保精確測量的**合理且經（jīng）濟的解決方案。在生產過（guò）程中，測量儀器充當可靠，一致且準確的控製單元（yuán）。
在（zài）熱（rè）軋和冷軋過程中，與指定尺寸的偏差通（tōng）常發生在生（shēng）產鏈的（de）開始。厚度和/或寬度的標稱（chēng）值的波動和偏差（chà）會導致不可接（jiē）受的材料成本以及質量下降（jiàng），這（zhè）增加（jiā）了生產產（chǎn）品下遊加工的難度，*終導（dǎo）致投訴和重（chóng）大（dà）財務損失。
測量方法比較
三種不同的原理主導著金屬厚度測量領域（yù）。*一種（zhǒng）是接觸方法，其中*好使用兩個測量頭，一個在物體上方，一個在物體下（xià）方（fāng）。
由於測量期間的接觸，此類設備通常（cháng）會更（gèng）快磨（mó）損，並在生產過程（chéng）中產生問題。另外，由於僅在各個點進行測量，因此隻能獲（huò）得（dé）有關厚（hòu）度變化的近似信息。
放射性方法（fǎ）適用於同位素輻射（shè）或（huò）X射線（xiàn）源，但是它們會被薄板本身所衰減。發射器（qì）用於發射和接收輻射，發射和接收到的輻射之（zhī）間的差用（yòng）於確定平均厚度（dù）。
方法可靠性的提高取決於合（hé）金和材（cái）料的狀況。另外，還需要進行輻射防護（hù）和（hé）定期安全測試的費用，這需要定期支出。
與其他方法相比，基於激光三角測量的（de）光學方法具有優勢，因為無需接（jiē）觸即可進行測量，因（yīn）此不會造成磨損。另外，不管材料的狀況如何，都可（kě）以對（duì）帶材表麵進行精確（què）的幾何測量。
Micro-Epsilon的*新厚度測量儀使用激光線三角測量液（yè）體（tǐ）渦輪流量計（輪廓電磁流量（liàng）計），具有更多優（yōu）勢（shì）。如縱向縱切機中所見，由於刀片施加在鋼帶上的力，在冷鋼帶的加工過程中通常會發生較大的垂（chuí）直運動。
液（yè）體（tǐ）渦輪（lún）流量計克服了這（zhè）些限製。輪廓電磁流量計產生的較高信息密度凸顯了其（qí）優勢。激光（guāng）光斑延伸到輪廓電磁流量計中的一條線（xiàn），並且通（tōng）過穿過電磁流量計（jì）產生的點雲的（de）“*佳擬合線”獲得測量值。
由於所述線的變化是根據幾個（gè）部分分辨率的相互作用來計算的，因此，距離分辨率關係明顯優於點電磁流量計。因（yīn）此，在更大的麵積上可獲得更多的測量值，將其平（píng）均（jun1）後可（kě）提（tí）供更好的精度。
由於具有*適合的線條特征，因此在較大的測量距離處，線液體渦輪流量計的分辨率比點電（diàn）磁流量計的分辨率要好。由於采取了（le）這些措施，在線掃描儀中的工作間隙為190 mm，測量範圍為40 mm，精（jīng）度為±5 μm，而點電（diàn）磁流量計在相同範圍內則達到了±25 μm。
解決方（fāng）案：C型框架和O型框架係統
恒定的電磁流量計距離對於（yú）使用距離液體渦輪流量計進行差分厚度測量至關重（chóng）要。通常，使（shǐ）用兩種不同的設（shè）計類型，由於（yú）它們（men）的形狀，它們被稱為C框架或（huò）O框（kuàng）架。
電磁流量計固（gù）定在C形框架的上下臂上，框架作為一個（gè）整體移動以到達測量位置。通過增加材料寬度，上懸臂的（de）振動敏（mǐn）感性增加（jiā），這使得C型框架*適合包含窄條的應（yīng）用。
在更換線圈（quān）時校準C形框架時，主組（zǔ）件會自動移入測量間隙，並平衡係統以進行新的測量。
C型框（kuàng）架的優點是，在穿線過程中或在危險情況下，由於所謂的滑雪效應（條帶在一側向上彎曲）或短吻鱷效應（條（tiáo）帶向下和向（xiàng）上彎曲）引（yǐn）起的（de）危險情況下剝離後，可（kě）以將C框架從生產線上完全移除。但是，這需要空間，而服務中心通常不可用（yòng）。
由於其緊湊的結構，在（zài）這（zhè）裏O型框架是一（yī）個更好的選擇。由於恒（héng）定的測量間隙是此類設備精度的決定性標準，因此O型架具有很多優勢。此版本基於穩定（dìng）框架（jià）設計，該框架集成在生（shēng）產線中。
由於采（cǎi）用了堅固的框架，因此可以檢查*大寬（kuān）度（dù）為4,000 mm的帶鋼的厚度，寬度和輪廓。自動（dòng）校準單（dān）元也是該版本的一部分。液體（tǐ）渦輪流量計係統在測量過程中連續穿過金屬帶，並在帶材料的整個寬度上（shàng）收集輪廓（kuò）數據。
恒定測量間隙
與O形框架相結合的恒定（dìng）測量間隙是獲得精確結果的基本前提。使用附加的位移測量電磁流量計技術或在過程非關鍵時刻進（jìn）行迭代校準，可以實現（xiàn）對測量間隙的（de）有效監控。
機架的幾何形狀以及測量間隙均受溫度變化的影響。但（dàn）是，通常，由於與溫度相關的變化緩慢發生，因此有足夠的時間可用於采取必要的措施而不會損害製造過程。
Micro-Epsilon的“補償框架”**概念在（zài）此方麵提供了幫助。為此，在係統中集成了一個額外的溫度固定（dìng）框架，該框架平行於上下吊臂運行，每個（gè）測量液（yè）體渦輪流量計的支撐都通（tōng）過所謂的補（bǔ）償電磁流（liú）量計擴展（zhǎn）。
支撐件與補償框架的距離由（yóu）這些電磁（cí）流（liú）量計確定（dìng），測量間隙的變化完全轉換為補償電磁流量計與補償框架的（de）距（jù）離。可以消除這種變化（huà），並（bìng）且將測（cè）量間隙保持在非臨界水平（píng）上恒定。
縱向縱剪剪切機的（de）厚度測量和集成寬度測（cè）量
除了厚度測量外，由於線性電磁流量計的高橫（héng）向分辨率，還可以精確測量材料的邊緣。可以確（què）定縱向縱剪中每個環的橫向輪廓。
然而（ér），這（zhè）對於（yú）具有大測（cè）量點的方法可能是（shì）困難的，因為當狹縫（féng）條窄時，該方法的（de）橫向分辨率通常不足以進行該測量。使（shǐ）用（yòng）基於輪廓掃描儀的（de）厚度測量（liàng）單元（yuán），對於從（cóng）帶材（cái）上切下並非常接近*小公差*限的環，可以提高從卷材獲得的產量。
所生產的戒指仍然可（kě）以（yǐ）在公差範圍內，而（ér）與其相（xiàng）鄰的戒（jiè）指則不能出售，或者不（bú）屬於相（xiàng）關訂單的一部分。當隻有一個（gè）厚（hòu）度輪廓且其橫向分辨率不精（jīng）確時（shí），具有可（kě）接受尺寸的環將（jiāng）不再流通。
邊緣檢測的可能性還可以實現精確的寬度測量。除了用於測量厚度的液體渦（wō）輪流量計係統外，*三激光線電磁流量計還（hái）集成在係統中並且可以獨立定位（wèi）。因此，可以對條帶的兩個（gè）邊緣進行同步檢（jiǎn）測，並且聚類不影（yǐng）響測量結果。
當厚（hòu）度電磁流（liú）量（liàng）計係統在整個材料寬度（dù）上連續移動時，寬度（dù）電磁（cí）流量計位於下一個切割間隙。當兩個電磁流量計都檢測到條帶的邊緣時，將測量條帶的寬度。
層壓板的厚度測量
層壓板（bǎn）的厚度測量是激光線（xiàn）液體渦輪流量計的另一應用。然而，涉及穿透輻射的方法不適合於（yú）此。
例如，當層壓板由外層板（bǎn）製成且內部具有網狀結構時，輻（fú）射法僅測量測量（liàng）間隙中的材料分（fèn）數（shù），而不測量產品的尺寸精度。激光線掃描儀確定此類紙張（zhāng）的幾何（hé）尺寸並識別起伏，這些（xiē）起伏可提供有關在處理（lǐ）過程中出現的問題的信息。
瓦楞紙和（hé）波紋板的厚度（dù）測量
在結構化表麵上的測量是激光輪廓液（yè）體（tǐ）渦輪流量計顯示其強度（dù）的地方。材料的基本厚度和*終產品的總厚度在瓦楞紙或（huò）凹版紙（zhǐ）的製造中很重要。
不能通過具有較大測量點的方法（例如使用X射線或同位素（sù）輻（fú）射）或通過具（jù）有很（hěn）小測量點的方法（例如點形激光三（sān）角測量）或什至接觸方法來執行此任務。
激光線（xiàn）電磁流量計的*大線寬可達64毫米，具體取決於測量範圍。可（kě）以對液體渦輪（lún）流量計進行定位，以便（biàn）可以通過激光線可靠地確定凹痕（hén）峰（fēng）和（hé）片材的基本（běn）厚度。這是因為用於將壓紋或凹痕輪（lún）廓（kuò）卷成片的卷的幾何形狀是已知的。